Bonjour
Je suis ingénieur IA/ML spécialisé dans la détection de défauts industriels grâce à la vision par ordinateur. Je travaille actuellement chez STMicroelectronics, où je développe des modèles de localisation et de clustering de défauts non supervisés pour des images de fabrication, conçus pour fonctionner de manière fiable dans des environnements de production réels.
J’ai une solide expérience avec les CNN, les Vision Transformers et les pipelines de détection de défauts (YOLO, Mask R-CNN, apprentissage de la représentation), couvrant l’ensemble du flux de travail, de la conception et formation du modèle à la validation et au déploiement. Mon travail se concentre sur la détection robuste et précise des défauts, incluant la gestion de la variabilité des données et des contraintes de production.
Je serais ravi de collaborer avec votre équipe pour construire et intégrer un modèle efficace de détection de défauts adapté à votre processus de fabrication.
Sinceres salutations
Paul Mbathe Mekontchou
Ingénieur IA – Vision par ordinateur